JEM-1400F透射电子显微镜

电话:13064089089

发布者:材料科学与工程学部发布时间:2024-04-09浏览次数:26

仪器简介封面

透射电子显微镜

联系人:李老师

地址:长清校区轻化楼C107-3

电话:13064089089


一、仪器名称

中文名称:透射电子显微镜

英文名称:Transmission Electron Microscope

二、型号:JEM-1400F

三、生产厂家:日本电子

四、仪器简介

仪器由电子光学系统、真空系统、控制系统、底片成像系统、数字化成像系统等。可对样品的微区进行高衬度、高分辨成像。可以进行图像观察和微区的衍射晶体结构分析。

五、仪器主要特点及技术指标:

1.电子枪:预对中灯丝

2.  最大加速电压:120kV

3. 相机长度:10-250cm

4. 最小束斑尺寸:0.2μm以下(TEM模式)

5. 放大倍数:×10 – ×1,500,000

6. 图像观察窗:大荧光屏:直径160mm;小荧光屏:标准20mm

7. 双眼目镜:标准配置10,聚焦后无需改变放大倍数直接成像

8. 底插CCD相机

9. 分辨率:500万像素

10. 像素尺寸:18μm × 18μm

11. 视野范围:41mm × 41mm

12. 真空系统:分子泵系统,换样时间2分钟内

六、仪器主要功能及其用途:

1. 微纳米材料形貌表征

2. 选区电子衍射

七、仪器图片

八、存放地点及联系人:

存放地点:2号教学楼(轻化楼)C107(西)

联系人:李老师:13064089089

刘老师:13964092712