Thermo Fisher Scientific (FEI)Talos F200s 超高分辨率场发射透射电子显微镜

电话:13969092379

发布者:材料科学与工程学部发布时间:2024-04-08浏览次数:161

仪器简介封面

场发射透射电子显微镜

联系人:陶圆圆

地址:千佛山校区山东省分析测试中心1号楼1层高分辨影像室

电话:13969092379


一、仪器名称

中文名称:场发射透射电子显微镜

英文名称:Field Emission Transmission Electron Microscope

二、型号:FEI Talos F200S

三、生产厂家:美国Thermo Fisher Scientific (FEI)

四、仪器简介

FEI Talos F200S高分辨透射电子显微镜是一台高分辨分析型透射电镜,融合了出色的高分辨率STEMTEM成像功能与行业领先的能谱仪(EDS)。可在实现快速、精确的EDS分析,以及最好且支持快速导航的高分辨HRTEM成像。与此同时,还提供最高的稳定性和最长的正常运行时间,配备了多种创新功能以提高效率、精度和易用性。

五、仪器主要特点及技术指标:

1.分辨率:

STEM HAADF 分辨率优于0.16 nm@200 kV

TEM 信息分辨率优于0.12 nm@200 kV

2. 放大倍率:

200-1,000,000

;

3. 电子枪:

肖特基热场发射电子枪;

4. 加速电压:

80 kV, 200 kV

5. 探针电流:

总束电流>150 nA,探针电流0.6 nA@1 nm探针(200 kV)

6. EDS系统:

Super-X EDS detector2 SDD无窗设计,shutter保护

能量分辨率:≤136 eV,对Mn-Kalpha10kcps(输出)

快速EDS:像素驻留时间低至10 us

7. 样品杆及样品台

配备单倾样品杆和低背景双倾杆,样品台倾斜角度(±15oC

六、仪器主要功能、用途及送样要求:

1. 主要用于无机、有机、生物材料(粉体、液体)低倍形貌,高分辨微结构与微区组成的分析和研究(块状及薄膜结构材料需自行制备测试样品);

2. 表征范围:颗粒形貌尺寸、微区组成、元素分布、晶体结构、相组成、结构缺陷、晶界结构和组成等;

3. 成像:透射像(TEM)、高分辨像 (HRTEM)

4. 微区成分:EDS能谱的点、线和面分析;

5.送样要求:样品无磁(弱磁可具体咨询),样品尺寸符合电镜测试要求。

七、仪器图片

八、应用实例

某课题组制备碳化钛复合纳米金球材料,需要对其微观形貌结构进行观察。我们采用多种模式TEM, HAADF, EDS,针对该样品进行测试分析,结果如下:

HRTEMHRSTEM iDPC成像

九、存放地点及联系人:

存放地点:千佛山校区山东省分析测试中心1号楼1层高分辨影像室

联系人:陶老师,13969092379