《材料测试技术》考试大纲
一、考试题型
1、名词解释
2、填空
3、简答题
4、计算题
5、综合分析题
二、考试参考用书
1.《材料分析方法》，杜希文、原续波著，天津大学出版社，2014年8月第2版。
三、考试内容
第一章：X射线衍射分析(XRD)
了解：X射线产生的物理原因；劳厄方程；德拜相机的结构和工作原理；X射线衍射的定性分析和定量分析原理；劳厄法、转晶法和粉末照相法三种衍射方法
熟悉：衍射矢量方程；原子对X射线的散射；偏振因子、结构因子、干涉函数；X射线衍射仪的结构和工作原理；材料的物相鉴定和定量分析。
掌握：正空间点阵定义及晶带轴定理；倒易点阵的定义和性质；连续X射线和特征X射线的产生条件以及性质；X射线与物质的相互作用；X射线的吸收以及滤波片原理；布拉格定律的推导和应用；单晶和多晶的厄瓦尔德图解；结构因子的计算和应用。
第二章：透射电子显微镜（TEM）
了解：透射电镜的发展
熟悉：电磁透镜成像原理；透射电镜的仪器结构；透射电镜样品的制备
掌握：电子与固体物质的相互作用；透射电镜的两种工作模式；物镜、中间镜、投影镜的特点和作用；物镜光阑、选取光阑的作用；单晶、多晶和非晶电子衍射花样及成因；电子衍射的基本公式；选区电子衍射；多晶衍射花样和已知结构的单晶衍射花样标定；电子衍射的衬度；景深、焦深、像差、色差、色散的概念及成因。
第三章：扫描电子显微镜（SEM）
熟悉：扫描电镜的特点；扫描电子显微镜的仪器结构；SEM样品的制备
掌握：扫描电子显微镜常用的物理信号及各信号的深度和区域；扫描电镜的成像原理；电子枪的种类及性能特点；扫描电镜图像衬度
第四章：X射线光谱分析
熟悉：X射线谱仪、波谱仪（WDS）、能谱仪（EDS）、电子探针仪（EPMA）、X射线荧光光谱分析仪（XRF）等概念；电子探针仪的结构；波谱仪的仪器结构和工作原理；能谱仪的仪器结构和工作原理
掌握：WDS和EDS的分析模式及应用；波谱仪和能谱仪的比较
第五章：X射线光电子能谱（XPS）
熟悉：XPS仪器结构；XPS样品制备；仪器校正；XPS谱图分析；
掌握：光电效应、电子结合能、功函数、逸出功、化学位移等概念；光电发射定律；化学位移与元素电负性和样子氧化态的关系；XPS应用。
第六章：傅里叶红外光谱和拉曼光谱（FTIR）
熟悉：FTIR的仪器结构；红外光谱样品制备；基团振动与红外光谱区域的关系
掌握：红外光谱基本原理；分子基团与共振频率的关系；简正振动及基本形式；简并振动；红外选择定则；影响基团频率的因素（氢键、诱导效应、共轭效应、中介效应、倍频、组频、振动耦合、费米共振等）；拉曼光谱的基本原理；拉曼光谱与红外光谱的比较以及拉曼光谱的优点。
